电子电器产品的MTBF测试通常遵循一系列的国际和国内标准，这些标准提供了测试方法、测试条件和评估程序。以下是一些常见的MTBF测试标准：

MIL-HDBK-217：这是美国国防部可靠性分析中心及Rome实验室提出并成为行业标准的手册，专门用于产品的MTBF值计算。

GJB/Z 299B：这是中国的军用标准，用于电子设备可靠性预计。

Bellcore SR-332：由AT&T Bell实验室提出，成为商用电子产品MTBF值计算的行业标准。

GB/T 5080.7-1986：《设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验》。

GB/T 9813.1-2016：《计算机通用规范 第1部分：台式微型计算机 可靠性试验》。

GB/T 9813.2-2016：《计算机通用规范 第2部分：便携式微型计算机 可靠性试验》。

GB/T 14081-2010：《信息处理用键盘通用规范 可靠性试验》。

GB/T 18220-2012：《信息技术手持式信息处理设备通用规范可靠性及寿命试验》。

GB/T 34986-2017：《产品加速试验方法》。

这些标准涵盖了从预测法、实验法到加速法等多种MTBF测试方法。预测法通常基于产品中各个组件的失效率进行计算，实验法则通过实际测试来确定产品的MTBF值，而加速法则通过在实验室中模拟更严苛的工作条件来加速产品失效的过程，从而在较短的时间内评估MTBF。

在进行MTBF测试时，需要考虑多种因素，包括环境因素、品质因素、应用因素、复杂性因素、累计因素、电应力因素和温度因素等。这些因素都会对产品的可靠性和MTBF值产生影响。通过这些标准的指导，可以更准确地评估和提高电子电器产品的可靠性。